目 录
第一部分 测试开发导论篇 1
项目1 测试开发流程 1
【知识准备】 1
1.1 半导体的分类 1
1.2 芯片制造流程 3
1.3 芯片测试环节 4
【项目实施】 8
任务1 测试开发流程 8
任务2 数据手册识读 8
任务3 测试机简介 13
【技能训练】 15
第二部分 分立器件测试篇 16
项目2 电阻的测试 16
【知识准备】 16
2.1 电阻器 16
2.2 测试资源简介 17
2.3 开尔文四线法 18
【项目实施】 20
任务1 测试方案开发（200Ω） 20
任务2 测试电路实现 20
任务3 测试代码调试 21
任务4 测试结果分析 24
项目3 二极管的测试 25
【知识准备】 25
3.1 二极管种类 25
3.2 二极管结构 26
3.3 二极管应用 27
【项目实施】 27
任务1 测试方案开发（1N4001） 27
任务2 测试电路实现 28
任务3 测试代码调试 29
任务4 测试结果分析 34
【技能训练】 34
项目4 三极管的测试 35
【知识准备】 35
4.1 三极管的种类 35
4.2 三极管的结构 36
4.3 三极管的特性曲线 37
4.4 三极管的应用 37
【项目实施】 38
任务1 测试方案开发（2N3904） 38
任务2 测试电路实现 39
任务3 测试代码调试 42
任务4 测试结果分析 56
【技能训练】 56
项目5 MOSFET的测试 58
【知识准备】 58
5.1 MOSFET种类 58
5.2 MOSFET结构及原理 58
5.3 MOSFET特性曲线 61
5.4 MOSFET应用 62
【项目实施】 62
任务1 测试方案（NUD3160） 62
任务2 测试电路实现 64
任务3 测试代码调试 67
任务4 测试结果分析 81
【技能训练】 81
第三部分 集成电路测试篇 83
项目6 组合逻辑芯片测试开发 83
【知识准备】 83
6.1 芯片功能描述 83
6.2 测试机数字源 83
【项目实施】 84
任务1 测试方案（74HC08） 84
任务2 测试电路实现 86
任务3 测试代码调试 87
任务4 测试结果分析 102
【技能训练】 103
项目7 时序逻辑芯片测试开发 104
【知识准备】 104
7.1 芯片功能描述 104
7.2 测试机数字源 106
【项目实施】 106
任务1 测试方案（74HC595） 106
任务2 测试电路实现 108
任务3 测试代码调试 109
任务4 测试结果分析 116
【技能训练】 117
项目8 运算放大器的测试开发 118
【知识准备】 118
8.1 运放与比较器 118
8.2 运放的工作原理 119
8.3 运放的电特性参数 120
8.4 运放的应用线路 120
【项目实施】 121
任务1 测试方案（LM358） 121
任务2 测试电路实现 123
任务3 测试代码调试 124
任务4 测试数据分析 137
【技能训练】 138
项目9 电源管理芯片测试开发 139
【知识准备】 139
9.1 LDO与DC-DC 139
9.2 LDO的工作原理 140
9.3 LDO的应用 141
【项目实施】 143
任务1 测试方案（AMS1117） 143
任务2 测试电路实现 145
任务3 测试代码调试 150
任务4 测试结果分析 174
【技能训练】 174